Sauter TE 1250-0.1N Laagdiktemeter 0 - 1250 µm

Digitale laagdiktemeter Ergonomisch design en externe meetkop voor optimaal bedieningsgemak Offset-Accur functie Met de Offset-Accur functie kan het meetapparaat door middel van een tweepuntskalibratie exact op het concrete meetbereik worden ingesteld, om zo een hogere precisie van 1 % (of minder) van de meetwaarde te bereiken. Uitvoering: Externe meetkop voor het gemakkelijker bereiken van moeilijk toegankelijke meetpunten Offset-Accur functie Selecteerbare eenheden: µm, inch (mil) Auto-Power-Off Inclusief data-interface RS-232 Inclusief nulplaat en instelfolies Levering in robuuste draagkoffer Meetkoppen met andere meetbereiken zijn op aanvraag leverbaar. Technische spec.: Afmeting, breedte: 210 mm · Afmeting, hoogte: 53 mm · Afmeting, lengte: 250 mm · Cijferhoogte: 10 mm · Gewicht: 750 g · Inhoud: 1 stuk(s) · Kalibratie: Fabrieksstandaard (zonder certificaat) · Meetbereik: 0 - 1250 µm · Meetbereik (max.): 1250 µm · Meetbereik (min.): 0 µm · Meetmethode: Ultrasoon · Meetsoort: Isolerende coatings op niet-magnetische metalen · Nauwkeurigheid: 3 % · Overige technische gegevens: Niet geschikt om mee te ijken · Resolutie: 0.1 µm · Soortnaam: Laagdiktemeter · Weergave: Digitaal